方位密度が高い材料の4種のODFソフトウエア解析結果比較

アルミニウムなどは加工することで結晶粒径が大きくなる事があります。 このような材料ではX線照射エリアを大きくし、測定する結晶粒の数を増す事が重要になります。 揺動機能や複数の材料を測定し平均化が必要になります。 本資料では揺動機能を用いた測定結果をCTRソフトウエアでデータ処理を行い1/4操作を行ったデータを複数のODFソフトウエ…

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XRD極点図に対して複数ODF解析ソフトウエア結果を比較

XRDで結晶方位解析を行う場合、測定前加工、測定光学系、測定方法、正極点処理、ODF解析方法により解析結果は異なります。 同一結果を求めるのであれば、従来と同じ加工済試料とrandom試料を用いて測定から行いODF解析結果の比較が必要です。 今回、ODF解析方法により解析結果の極点図、ODF図、逆極点図がどの程度異なるかを比較的極密…

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ODF処理後の各種データ処理

CTRソフトウエアでは各種ODF処理の入力データやODF解析後のデータ処理を行っています。 ODF解析ホルダを指定する事で、煩雑な入力データ選択を省いた各種データ処理を纏めてみました。 サイトトップ   http://helpertex.sakura.ne.jp 掲載サイト   http://helpertex.sakura.…

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