極点処理とバックグランド
最近高分子の評価を行ったが、randomレベルとバックグランドの扱いが重要である。
高分子材料では透過、反射測定が行われる。θ/θプロファイルからrandomの存在を確認する。
極点測定のバックグランド測定2θは近接ピークの影響を受けない角度で測定を行い、極点処理時randomレベルを意識してバックグランドレベルの再検討が必要と思わ…
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